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安徽巢湖miniled电性能IV扫描用源表

LIV 即光电特性,是验证激光二*管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。

 

根据Laser Diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。

 

miniled电性能IV扫描用源表认准武汉生产厂家普赛斯仪表,普赛斯开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心,结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LDLIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。

需要测试的参数:

驱动电流I,正向压降Vf

光功率Po

阈值电流Ith

拐点Ikink,背光电流Idark

 

需要仪器列表:

S型国产源表

积分球

可变光源

软件

 

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